光學(xué)式膜厚計日本 ASAHI-SPECTRA朝日分光

光學(xué)式膜厚計日本 ASAHI-SPECTRA朝日分光
特征
以前的型號使用濾光片式波長選擇方法，但新產(chǎn)品采用了我們經(jīng)過驗證的光譜儀，可以選擇任何波長。
膜厚變化信號由電壓輸出變?yōu)榕c計算機(jī)兼容的數(shù)字輸出，控制機(jī)構(gòu)由手動操作變?yōu)槔糜嬎銠C(jī)指令控制。此外，由于可以通過I/F直接連接到計算機(jī)來控制膜厚計，因此不需要像其他制造商那樣使用控制器，使其成為極其緊湊的系統(tǒng)。

產(chǎn)品型號：OMD-1000
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2025-05-17
訪問量：723

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產(chǎn)品詳情

品牌	其他品牌	產(chǎn)地類別	進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域	化工,農(nóng)林牧漁,建材/家具,電子/電池,綜合	供貨號	137.1702.5688

光學(xué)式膜厚計日本 ASAHI-SPECTRA朝日分光

長期供貨

以前的型號使用濾光片式波長選擇方法，但新產(chǎn)品采用了我們經(jīng)過驗證的光譜儀，可以選擇任何波長。
膜厚變化信號由電壓輸出變?yōu)榕c計算機(jī)兼容的數(shù)字輸出，控制機(jī)構(gòu)由手動操作變?yōu)槔糜嬎銠C(jī)指令控制。此外，由于可以通過I/F直接連接到計算機(jī)來控制膜厚計，因此不需要像其他制造商那樣使用控制器，使其成為極其緊湊的系統(tǒng)。

特征

緊湊型設(shè)計，內(nèi)置光譜儀
提高抗噪性，實(shí)現(xiàn)高度可靠的膜厚監(jiān)測（靜電放電試驗?zāi)蛪?plusmn;5kV）
可通過PC命令自動控制
通過將控制器集成到接收器主體中，實(shí)現(xiàn)了高性價比。

模型	OMD-1000
光譜儀類型	車爾尼·特納型單單色
波長范圍	保證范圍：380-900nm 可操作范圍：350-1100nm
波長分解能	狹縫 0.5mm: 4.2nm [546nm] 狹縫 1.0mm: 8.3nm [546nm]
波長精度	±1.0納米
最小波長饋電	0.1納米
外部控制	RS232接口
外部輸出端子	DC0~2V（滿量程）
采樣間隔	100ms以上
靜電放電測試耐壓	±5kV（實(shí)際8kV）
光源	12V100W鹵素?zé)?/span>
光量安定性	±0.1%/h 以下
輸入電壓	交流100V 50/60Hz
允許輸入電壓	交流85～132V
皮相電力	340VA以下
使用環(huán)境	溫度 10～35℃ 濕度 20～80％